Lise Son Sınıf Öğrencilerinde, Kaygı ve Başarı Düzeyleri Arası İlişkinin Araştırılması, Kullanılan Ölçüm Yöntemlerinin Güvenirlik ve Geçerlik Çalışması
Yazar/Hazırlayan
|
|
Üniversite
|
|
Enstitü/Fakülte
|
|
Tez Danışmanı
|
|
Tez Yılı
|
|
YÖK Tez No
|
79975
|
Sayfa Sayısı
|
60
|
Tez Türü
|
Yüksek Lisans
|
Tam Metin (PDF)
|
|
Kategori
|
|
Tez Özeti
|
The effect of anxiety on school success has been studied. STAI, which has been developed by Spielberger and adapted to Turkish by Le Comte and Necla Oner has been used as the evaluation instrument. Both school grades and University Placement Examination (OSYS) scores have been used as measures of success. As a result, it has been deduced that anxiety affects both school and University Placement Examination performance negatively. Additionally, it has been found that success in school affects success in the University Placement Examination. The reliability of the measurement done using STAI has been tested using Cornbach alpha and Kuder Richardson methods. The reliability of the results has been found out to be high.
|
Sevinç, M. Tuncay, Lise Son Sınıf Öğrencilerinde, Kaygı ve Başarı Düzeyleri Arası İlişkinin Araştırılması, Kullanılan Ölçüm Yöntemlerinin Güvenirlik ve Geçerlik Çalışması, İstanbul Üniversitesi, Sağlık Bilimleri Enstitüsü, 1999, Yüksek Lisans, pdf.